교육명 | XRF 기술과정 (형광 X-선을 이용한 물질의 원소분석) |
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교육기간 | 2일 (2017-12-13 ~ 2017-12-14) |
교육시간 | 총 16H (1일 8H) (09:00 ~ 17:30) |
교육인원 | 20명 |
교육장소 | 서울 교육장(예정) |
특이사항 | 1차 : 세라믹 분석, 2차 : 촉매 및 플리머 분석 |
교육개요 | - 형광 X-선 분석 이론 및 XRF Sample 전처리 습득 - XRF 프로그램 이해 - XRF를 이용한 시료측정 실습 및 data 해석 |
교육내용 | |||||||||||||||||||||
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